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[供应]NANOMAP-PS 探针式台阶仪
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  • 更新日期:2018-11-09 15:07:41
  • 有效期至:2019-11-09
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NANOMAP-PS 探针式台阶仪 详细信息

简介:
美国AEPTechnology公司主要从事半导体检测设备,MEMS检测设备,光学检测设备的生产制造,是表面测量解决方案行业的领先供应者,专门致力于材料表面形貌测量与检测。公司始终致力于微观表面“三维”检测技术和设备的研发及推广,历经近十年努力,已为30多个国家提供NanoMap系列三维表面形貌测量系统。
NanoMap-PS是一款专门为nm级薄膜测量研发的无需防震台即可测量的接触式台阶仪。
特点:
1.    扫描性能稳定,无需防震台
2.    超低(0.01mg)接触力
3.    一体化彩色摄像机在扫描同时可直接观察样品
4.    无需安装一键操作
5.    简单一键操作与用户友好的操作界面
 
测量范围:
测量表面可以覆盖多种材料表面:金属材料、陶瓷材料、生物材料、聚合物材料等等,对于植物表面,生物材料,聚合物表面,光刻胶等“柔软表面”也可测量无须担心划伤或破坏。设备传感器精度高,稳定性好。热噪声是同类产品最低的。垂直分辨率可达0.1nm。
 
应用领域:
1.    薄膜厚度
2.    二维表面轮廓
3.    二维粗糙度ISO24578
4.    划痕磨损的宽度、深度和面积
5.    量纲分析
6.    微电子表面分析
7.    MEMS器件表面分析
8.    太阳能电池表面分析
9.    纳米材料研究
 
主要技术参数
垂直分辨率:0.1nm
重复性:0.5nm(1Sigema@1um)
垂直范围:1000um
扫描范围:5000um
 
 
 

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