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 薄膜测量仪器 >> 薄膜在线监测控制仪器 >> 温度与薄膜厚度测量监测器 产品编号:841482816产品名称:温度与薄膜厚度测量监测器规格:产品备注:产品类别:薄膜测量仪器    产品说明Eon-LT?温度与薄膜厚度测量监测器是一个基于电脑的薄膜厚度监测器,远远优于优于传统的监测器,传统的监测器无法感知晶体的热变化。本监测器是把频率和温度测量相结合,在实时速率和薄膜厚度监测方面可获取从来没有的精度。 为什么要测量温度?因为加热过程导致晶体的频率变化,毫无疑问等于镀膜引起的频率变化,对大多数速率测量,在正常操作会存在10%的误差,最糟糕的情况,会产生100%的误差。如果你的测量总是出错,那就是我们为什么要用Eon-LT?温度测量薄膜厚度监测器来测量。 特点:●附加精密的温度测量●与最新、直观的Eon?软件通信● 与相应的速率和厚度相伴的实时温度和频率的测绘图●支持挡板的接通和断开● 通信:RS-232,USB,和WiFi● 双通道扩展能力●包括所有的连接电缆、软件和操作手册●驱动晶体6MHz,1-200Ω,任何类型(石英、超级石英)●两个K型热电偶输入,精确到+/-0.25°C●两个高分辨传感头,输入精度达到0.001Hz●24V电源●工业标准的RS232通信协议●尺寸:4.5英寸x2.5英寸x1英寸●两个用户可选的传输口●LED状态指示