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X  射线荧光分析技术可以分为两大类型：能量色散  X  射线荧光分析（  EDXRF  ，以下我们简称能量色散）和波长色散  X  射线荧光分析(WDXRF，以下我们简称波长色散）；而能量色散型又根据探测器的类型分为（  Si-PIN  ）型和  SDD  型。在不同的应用条件下，这几种类型的技术各有其突出的特点；以下将针对欧盟  ROHS  &  WEEE  指令的具体应用情况，对能量色散和波长色散进行比较和说明： 

仪器类型 

探测器

测量精度

测量时间

被测样品要求

能量色散XRF

（  Si-PIN  ）型

20——50ppm

1——3分钟

可以不规则形状

波长色散XRF

（SDD  ）型 

200——300ppm

4——6  分钟 

形状需要制样 

仪器类型

被测元素

荧光强度

技术复杂程度 

使用寿命

能量色散XRF

S-U(纳优）

高

复杂

＞  10  年

波长色散XRF

重元素

低

简单

＞  5  年

1  、测量精度：  尽管目前各家能量色散仪器（均为  Si-PIN  类型）生产商和销售商都给出了很高的技术指标，但在实际应用中（特别在被测样品不进行处理的情况下），真正可以期待的准确度都在  200~300ppm  之间（测量塑料中有害元素时，准确度会好一些；对不规则样品，则精度会更差）；同时，对于同类型的仪器，进口仪器的指标和国产仪器之间并没有本质差别（基本配置），但进口仪器的价格却昂贵很多。波长色散测量准确度比能量色散类型要高一个数量级，基本在  20~50ppm  左右。 

          2  、测量时间：  由于波长色散配备较大功率的  X  光管，荧光强度高；因此，波长色散仪器占用较短的测量时间，便能达到较高的测量精度。 

          3  、被测量样品的要求：  由于技术特点的差异，波长色散需要对被测量样品进行简单的处理；对固体样品的一般处理方法是将被测量样品表面打磨光滑，对粉末和其他样品可以采用磨细后进行粉末压片法处理，相应的设备市场上很容易找到。能量色散型仪器最大的优势在于：可以对样品不作特别复杂的处理而直接进行测量，对样品也没有任何损坏，适合直接用于生产的过程控制中；但需要强调指出的是：从荧光理论上讲，被测量样品的预先处理是必须的，对于能量色散仪器来说，我们可以采取一些技术手段进行校正来满足实际生产控制的需要，但即使采用了技术校正的手段，对不规则样品的直接测量也是以牺牲测量准确度作为代价的。 

        4  、最佳应用范围：  由于波长色散和能量色散类型各自的技术特点，两种类型仪器所侧重的应用方案也不尽相同；波长色散具有较高的测量精度，但同时需要对被测量样品进行简单处理，更适用于进厂原材料、半成品、成品的精确检测和质量控制；能量色散虽然测量精度稍差，但具有快速、直接测量各种形状样品的优点，因此可直接在生产线上用于各种部件、电子元器件的检测。 

        5  、能量分辨率：  能量分辨率是仪器的主要指标，分辨率数值越小，分辨率越高，仪