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牛津无损电镀膜厚测试仪CMI900 ,专业测量金、银 钯 銠 镍 铜 锡 等贵金属多
镀层膜厚测量,快速 精准 无损,业内广受好评,客户应
用广泛在 五金 连接器 PCB LED支架等行业以形成行业测量的标准。欢迎广大五
金连接器客户联系 测量量样品 洽谈往来 本公司经营多年工程师经验丰
富,商业合作个方式灵活。同时经营原装OXFORD X光射线管 ETP SRP-4探头等配
件,CMI900 维修 回收 以及ROHS检测设备国产顶级ROHS分析检测仪,台式元素分
析仪。本仪器具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点,是控制
和保证产品质量必不可少的检测仪器,广泛地应用在制造业、金属加工业、化工
业、商检等检测领域。
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仪器介绍
CMI 900 系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用
于材料的涂/镀层 厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域,为产品质量控制提
供准确、快速的分析.基于WindowsXP
中文视窗系统的中文版 SmartLink FP 应用软件包,实现了对CMI900主机的全面
自动化控制,
PCB 五金 LED 连接器 表面处理等行业
技术参数:
CMI 900 X-射线荧光镀层厚度测量仪,在技术上一直以来都领先于全世界的测厚行
业
A CMI 900 能够测量包含原子序号22至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液
体,极薄的浸液镀层
(银、金、钯、锡等)和其它薄镀层。区别材料并定性或定量测量合金材料的成
份百分含量可同时测定最多5层、15 种元素。
B :精确度领先于世界,精确到0。025um (相对与标准片)
C :数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式,以满足您特定的分
析报告格式要求 ;
如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。
D :统计功能提供数据平均值、误差分析、最大值、最小值、数据变动范围、相
对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数
据分析模式。
CMI900系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状各种尺寸的样品;
E :可测量任一测量点,最小可达0.025 x 0.051毫米
牛津仪器CMI900电镀膜厚测量仪