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[供应]超高分辨率纳米焦点DR检测系统
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  • 产品产地：上海
  • 产品品牌：恩迪
  • 包装规格：纳米焦点DR检测系统
  • 产品数量：10
  • 计量单位：台
  • 产品单价： 8000000
  • 更新日期：2017-08-28 13:57:26
  • 有效期至：2027-08-26
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超高分辨率纳米焦点DR检测系统 详细信息

超高分辨率纳米焦点DR检测系统


 


关键特征：


190kV/225kV/240kV穿透型高分辨率纳米焦点射线  JIMA卡空间分辨率测试可达0.5微米 支持多种平板探测器，探元大小可选50微米/100微米/139微米/200微米

主要技术规格：

微米焦点射线管


类型

穿透型纳米焦点射线管

最大管电压

190kV/225kV/240kV

冷却

封闭式自循环冷却

焦点大小

0.5微米(采用JIMA卡测试)

探测器


类型

非晶硅平板探测器

像素大小

100um /127um /139um/200um

像素数量

平板探测器：>2048′2048

机械系统


类型

高精度机械系统

最大有效检测范围

可定制化

最大承重

可定制化

旋转

nx3600

软件


类型

二维射线检测

软件功能

系统控制、二维射线检测、平板探测器校正、图像处理、灰度分析、图像滤波、测量功能、支持定制化软件功能


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