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[供应]高分辨率微焦点DR检测系统

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高分辨率微焦点DR检测系统详细信息

高分辨率微焦点DR检测系统

关键特征：

190kV/225kV/240kV反射型高功率微焦点射线源 JIMA卡空间分辨率测试可达2微米支持多种平板探测器，探元大小可选50微米/100微米/139微米/200微米高分辨率的实时快速成像快速图像处理，保存多种图像格式主要技术规格：

微米焦点射线管

类型

反射型高功率微焦点射线管

最大管电压

190kV/225kV/240kV/300kV

冷却

封闭式自循环冷却

焦点大小

225kV/240kV：2微米 (采用JIMA卡测试)

300kV：3微米(采用JIMA卡测试)

探测器

类型

非晶硅平板探测器/线阵探测器

像素大小

100um /127um /139um/200um

像素数量

平板探测器：>2048x2048

线阵探测器：4100

机械系统

类型

高精度机械系统

最大有效检测范围

可定制化

最大承重

可定制化

旋转

nx360°

软件

类型

二维射线检测

软件功能

系统控制、二维射线检测、平板探测器校正、图像处理、灰度分析、图像滤波、测量功能、支持定制化软件功能