集成电路电源高温老化系统

符合标准： GJB548 （ 等同MIL-STD-883 ）、GJB 597 （ 等同 
MIL-M-38510） 
适用范围：适用于对各种数字、模拟、数模混合集成电路和微处理器、 
存储器等微电子电路进行高温动态老化试验 
型号 
Model V 
ELEA-系统分区 
Zone 16 区（标准）16 zones(standard) 
试验容量 
Testing capacity 208×16（以DIP14 计） 
试验温度 
Testing 
temperature 
最高150℃ up to 150℃ 
数字信号 
Digital signal 
每板64 路，每路可独立编辑信号的数据、地址、控制、三态特性；信号最高频率：2MHz；最 
小编程分辨率100ns，最小编程步长100ns；编程深度256k；信号幅度程控范围：2.0V～18.0V； 
最大寻址深度：64G；数字信号可采用直接输入、字符输入、程序输入三种方法编程； 
Each board has 64 channels, each of which can edit data, adress and tri-state properties of 
signal; signal frequency up to 2MHz; minimum program resolution is 100ns; minimun 
program length is 100ns; program depth is 256k; signal width program range is 2.0V～18.0V; 
Maximum adress length is 64G; digit signal can program by direct input, character input and 
procedure input. 
模拟信号 
Analog signal 
4 路多种类模拟信号发生单元及驱动电路，最高频率可达1MHz;最大驱动电流：1A;信号幅度 
Vpp20V；直流偏移量：0～1/2Vpp； 
4 channels of anolog signal generate unit and driving circuit. Maximum frequency is 1MHz; 
Maximum driving current is 1A; Signal width is Vpp20V; DC deviation value is 0～1/2Vpp. 
试验状态监测 
Test condition 
monitor 
64 路信号示波监测接口；宽范围数字、模拟信号频率自动测试、记录；二级电源电压监测； 
二级电源电流、信号峰值监测（可选） 
64 channels signal monitor interface; wide range digital and analog signal frequency 
auto-test and record; secondary power voltage monitor. 
Secondary prower current, signal peak monitor (optional) 
通讯速率 
Communication 
rate 
500K 
二级电源 
Secondary power 
supply 
可程控VCC、VMUX、VEE；输出能力：2V～18V/10A；具备灌电流能力；&nbs