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主营:镀层测厚仪/膜厚仪/博曼膜厚仪/薄膜镀层分析仪/电镀测厚仪/电镀镀层测厚仪
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[供应]半导体膜厚测试仪特价出售
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  • 产品产地:美国
  • 产品品牌:美国博曼
  • 包装规格:XRF-1
  • 产品数量:0
  • 计量单位:
  • 产品单价:0
  • 更新日期:2015-03-09 10:29:56
  • 有效期至:2025-03-06
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半导体膜厚测试仪特价出售 详细信息

博曼膜厚测试仪,镀层测厚仪,膜厚测试仪,X-射线镀层测厚仪,可满足所有镀层厚度测量需求的双检测器型镀层测量仪,实现了超微小面积,高精度无损测量。可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层,合金镀层.可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液. 可测元素范围:钛(Ti) –铀(U)可测量厚度范围:原子序22-92,0.1-0.8μm ,可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量,避免直接接触或破坏被测物。让客户满意是我们金东霖科技始终的目标.
BOWMAN博曼膜厚测试仪的主要特点:
        (1)无损分析:无需样品制备
        (2)经行业认证的技术和可靠性,确保每年都带来收益
        (3)操作简单,只需要简单的培训
        (4)分析只需三步骤
        (5)杰出的分析准确性和精确性
        (6)在镀层测厚领域拥有超过20年的丰富经验
        (7)使用功能强大、操作简单的X射线荧光光谱仪进行镀层厚度测量,保证质量的同时降低成本。
博曼X射线膜厚测试仪的原理是物质经X射线或粒子射线照射后,由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态,此物质必需将多余的能量释放出来,而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度,来进行定性和定量分析。
如果您需要更详细了解博曼膜厚仪的相关信息以及相关资料,欢迎随时与我联系!

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