金东霖科技有限公司

电镀层膜厚测试仪在技术上一直以来都领先于全世界的测厚行业,X-射线荧光镀层厚度测量仪能够测量包含原子序号17至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,极薄的浸液镀层（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。

电镀层膜厚分析仪可变焦距控制功能和固定焦距控制功能  
计算机系统配置  IBM计算机 惠普或爱普生彩色喷墨打印机  
分析应用软件  操作系统：Windows XP中文平台 分析软件包：SmartLink FP软件包  
－测厚范围  可测定厚度范围：取决于您的具体应用。  
－基本分析功能  采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。  
样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)  
可检测元素范围：CL17 – U92 

电镀层膜厚分析仪样品台选择： 
采用开槽式样品室，以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用，分别为： 
一：手动样品台 
1 标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。 
2 扩展型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。 
3 可调高度型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。 

二：自动样品台 
1  程控样品台：XYZ轴自动控制。 
2  超宽程控样品台：XYZ轴自动控制。

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