金东霖科技有限公司

金东霖供应菲希尔(FISCHER)膜厚测试仪能够有效并精确的测量合金属成分，只需短短数秒钟，所有从17号元素氯到92号元素铀的所有元素都能准确测定。而且在不使用标准片做校正的情况下可达到一个相当不错的测量结果.X射线测厚仪操作也十分简单不需要复杂、昂贵的仪器来抽真空，操作员只需将测试面朝下，不论大小的样品可直接放进测量室内，不用调距离，只需对准位置，便能在正常的环境下测量从元素Z＝13铝到Z＝92（铀），固定、浆状及液体的样本也可以测量，即使是极小不规则形状的测量面积也可快速、免接触的测量。

可变焦距控制功能和固定焦距控制功能  
计算机系统配置  戴尔计算机  
分析应用软件  操作系统：Windows2000中文平台 分析软件包：SmartLink FP软件包  
X射线测厚仪测厚范围  可测定厚度范围：取决于您的具体应用。  
－基本分析功能  采用基本参数法校正。根据您的应用提供必要的校正用标准样品。  
样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)  
可检测元素范围：CL17 – U92   

X射线测厚仪的应用范围 :   1、分析电子部品电镀层的厚度 
                         2、各类五金电镀件的镀层厚度管控分析    
                           3、各镀层的成分比例分析。
联系人：王生：13316557996
电话：0755-29371655  
传真：0755-29371653   
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