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镀金膜厚测试仪是多用途的X射线荧光测量法的技术，适合快速及非破坏性测量物料成份和镀层厚度的质量。它能够应用于广泛的产品种类。镀层厚度和镀层成份的关系通常是非常复杂的，只要使用WIN FTM软件，所有物理上可以测量的镀层组合都能够解决。当设定测量程式（Def.MA)及自由种类选择时，它能提供非常大的弹性。它可以在一个多镀层系统内测量多至24种元素，这是非常独特的。简单的说：更多镀层！更多元素！更大灵敏度！

镀金膜厚测试仪能够有效并精确的测量合金属成分，只需短短数秒钟，所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量：单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。 
二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。 
三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。 
双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。 
双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。

镀金膜厚测试仪应用范围：五金，电镀，端子。连接器，PCB 厂商，为电镀行业，科研机构，半导体生产等电子行业
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