金东霖科技有限公司

X射线膜厚测试仪采用独一无二的WinFTM?（版本3（V.3）或版本6（V.6））软件是仪器的核心。它可以使仪器在没有标准片校准并保证一定测量精度的情况下测量复杂的镀层系统，同时可以对包含多达24种元素的材料进行分析（使用WinFTM? V.6软件）.

X射线膜厚测试仪主要特点 
  ★搭载样品尺寸的兼容性，能够通过一台仪器测量，从电子部件、电路板到机械部件等高度较高的样品 
  ★具有焦点距离切换功能，适用于有凹凸的机械部件与电路板的底部进行测量 
  ★彩色CCD摄像头，通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触或破坏被测物。 
  ★卤素灯照明 
     
X射线膜厚测试仪应用领域： 
  1、分析电子部品电镀层的厚度 
  2、各类五金电镀件的镀层厚度管控分析 
  3、各镀层的成分比例分析。

主要应用方面：
由于可测量的元素范围从铝至铀，X射线的应用范围从工业应用伸展到科学应用。它可应用于治金学、地质学、鉴证学或自然科学等，在工业方面，广泛用于五金电镀、电子半导体、PCB线路、首饰珠宝、卫浴、汽配的成份分析和镀层测量方面。

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