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[供应]供应BH200M金相显微镜金属切片检测ITO晶元

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供应BH200M金相显微镜金属切片检测ITO晶元详细信息

BH200M金相显微镜 ■采用平场消色差光学系统和落射式柯拉照明系统，同时在落射照明系统中设计防反射结构，有效防止反射光干扰成像光线，从而使成像更清晰、视场衬度更好。

■提供稳定可靠的操作机构，使成像更清晰，操作更简便。

■显微镜镜体采用全新的人机工程学设计，结构匀称，实现镜体扩展积木化。

■工作台、光强与粗微调的低位操作，提高了使用的舒适性。

■广泛应用于各类半导体硅晶片检测、材料科学研究、地质矿物分析及精密工程等学科领域。

技术规格：

型号

BH200M

BH200MS

转换器

内定位四孔转换器

内定位五孔转换器

透射底光

无

6V30W透射照明系统

光学系统

有限远色差校正光学系统

观察筒

铰链式双目，30°倾斜，360°旋转，瞳距调节范围：54-75mm，双边±5屈光度可调；（选配）铰链式三目，固定式分光比，双目:三目=80%:20%

目镜

PL10X高眼点平场目镜，线视场 18mm

物镜

长工作距平场消色差金相物镜5X、10X、20X、50X

、100X（选配）

调焦机构

粗微调同轴，带机械上限位和松紧调节装置，粗调行程28mm，微调精度0.002mm

载物台

双层机械移动平台，附设180X145mm平板平台，移动范围：76mmX50mm

照明系统

反射式柯拉照明，自适应宽电压90V-24V，6V/30W卤素灯，光强连续可调，带可变孔径光阑与视场光阑，视场光阑中心可调

摄像装置

0.35X/0.5X/1.0X C型摄像接筒