晶元光罩技术-多国发明专利:
测量精度完全不受机械误差影响
无阿贝误差
X,Y平面坐标精度≤±2.5μm
无需摆正,无需定位,两点自动对位
直接调入DXF,DRL进行自动检测
双镜头实时同步导航地图功能
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仪光光学:专业生产销售影像测量仪、三坐标测量机、玻璃厚度测量、激光平面度测量、瑕疵检测、轮廓检测、量身定制高效测量机及自动化检测设备
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