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[供应]内引线拉力芯片剪切应力测试仪
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  • 更新日期:2018-01-17 11:34:57
  • 有效期至:2028-01-15
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内引线拉力芯片剪切应力测试仪 详细信息

符合标准: MIL-STD-883、MIL-STD-750 
■ 适应范围:用于检测电子器件内部引线芯片键合、引线-衬底键合的拉力及芯片-衬底焊接剪切力。 
型号Model HA-10 
测试模式 
Test mode 
非破坏性 
Nondestrucitve 
可预置非破坏性测试引力极限值 
Nondestructive force limit values can be preset 
破坏性 
Destructive 
可预置极限值,以保护施力机构 
Limit values can be preset to protect force-exerting unit 
应力测试总范围 
Stress test range 
0.1g~10kg(可选用不同量程范围的传感器以满足需要) 
0.1g~10kg(sensors of different scales are available ) 
显示打印Display&print 液晶显示测试结果,全部数据可以打印输出 
Test result is liquid dispalyed, and data can be printed. 
夹具Jig 可配置DIP 型、F 型、B 型等各种封装形式的安装夹具 
Jigs of DIP, F, B or other packages 
外形尺寸(高×宽×深) Size 400mm×550mm×500mm

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