牛津测厚仪http://www.chem17.com/st104931/是基于X射线荧光光谱分析技术,该技术已被普遍认可并且得到广泛应用,可以在无需样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。
镀层测厚仪MAXXI6配备多准直器系统及超大样品舱,针对较薄而复杂的样品,具有完美的解决方案。MAXXI6 可分析固体和液体,元素范围包括从元素周期表中的13Al到92U。
牛津测厚仪亮点
采用微聚焦X射线光管,实现高精度、高可靠性、测量时间短、购置成本低
采用高分辨率的硅漂移探测器(SDD),提供能量级别的最佳效率,极低的检出限(LOD)
多准直器可优化不同尺寸样品荧光信号产额,提高测量效率
开槽式超大样品舱设计,十分适合电路板或其他超大平板样品
“USB接口”只需通过USB与计算机连接,无需额外的硬件或软件
德国制造,符合最高工程标准,坚固耐用的设计可实现长期可靠性
通过PTB(PhysikalischTechnischeBundesanstalt)认证,满足最高辐射安全标准
牛津测厚仪性能及符合性
最多同时测定5层,15种元素及共存元素的校正
同时实现多于25种元素的定量分析
检测方法通过ISO3497,ASTMB568,DIN50987和IEC62321等认证
开槽式大样品台
可编程的XY样品台
样品腔体积:500×450×170mm
创新的防撞设计
可编程的样品台
预定位激光技术
最大化的样品台行程范围及速度
牛津测厚仪自动测量
牛津测厚仪产品来源:http://www.chem17.com/st104931/list_77104.html