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X射线镀层测厚仪X-Strata920 是一款低成本高效率、快速可靠的镀层厚度测量及材料分析设备。
X射线镀层测厚仪X-Strata920 在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。X射线镀层测厚仪X-Strata920 为这些行业提供了：以更有效的过程控制来提高生产力，有助电镀过程中的生产成本最小化、产量最大化。同时快速无损地分析珠宝及其他合金，快速分析多达4层镀层。
X射线镀层测厚仪X-Strata920主要特点;
1.快速、精确的分析：大面积正比计数探测器和牛津仪器50瓦微聚焦X射线光管（X射线光束强度大、斑点小，样品激发佳）相结合，提供最佳灵敏度
2.简单的元素区分：通过次级射线滤波器分离元素的重叠光谱
3.性能优化，可分析的元素范围大：X-Strata920 预置800多种容易选择的应用参数/方法
4.卓越的长期稳定性：
自动热补偿功能测量仪器温度变化并做修正，确保稳定的测试结果
例行进行简单快 速的波谱校 准，可自 动检查仪器性能（例如灵敏性）并进行必要的修正
5.坚固耐用的设计
可在实验室或生产线上操作
坚固的工业设计

X射线镀层测厚仪X-Strata920 相关技术参数：
元素范围：Ti22 to U92;
镀层和元素数量：4 层镀层 + 底材，可同时分析至多25种元素;
X-ray激发：50 W (50kV, 1mA) 微聚焦型钨靶X射线管;
X-ray探测器：封气（氙气）正比计数器;
准直器：单准直器或多准直器（最多6个） ，圆形、正方形和矩形可选;
二次滤波器：可配置至多3个滤波器（V、Co和Ni）用于重叠X射线波谱校正;
数字信号处理器：4096多通道数字分析器，自动信号处理，带死时间修正及防脉冲累积功能;
软件：SmartLink FP，语言：英语、中文（简体和繁体）、法语、德语、西班牙语、日语、韩语、意大利语、捷克语和俄语;
计算机：CPU：Intel Core 2 Duo E7500 2.93GHz;
硬盘： 500Gb，内存：2GbDVDRW ;
操作系统：Microsoft WindowsTM ;
电源：85~130 或 215~265 伏特，频率范围47Hz到63Hz ;
工作环境：10°C (50°F) 至 40°C (104°F)，相对湿度98%，无冷凝;
可选配置：标准样品台（最大样品高度 33mm / 1.3”）、加深式样品台（最大样品高度 160mm / 6.3”）、XY 程控样品台（样品台移动行程：178mm x 178mm / 7” x 7”）、各样品台Z向移动行程：43mm (1.7”)，均为开槽式样品台；
尺寸（宽 x 长 x 高）：标准样品台：407 x 770 x 305 mm (16 x 30.3 x 12")，加深式样品台：407 x 770 x 400 mm (16 x 30.3 x 15.7")，XY 程控样品台：610 x 1037 x 375 mm (24 x 40.8 x 14.8“)；
重量：97kg（不包含计算机和显示器）