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产品名称：CMI900-镀层测厚仪   服务热线：13712542526

 电镀层测厚仪，镀层测厚仪，镍层测厚仪，元素分析仪，X射线荧光测厚仪CMI900 是一款性价比极高的台式 X 射线荧光光谱仪，应用于涂镀层厚度测量及材料成分分析。

涂镀层厚度测量和/或成分分析，元素范围 Ti - U 

可同时进行多达15层元素成分分析 

测量方法符合ISO 3497，ASTM B568和DIN 50987



CMI900-镀层测厚仪 技术参数： 



CMI 900 X-射线荧光镀层厚度测量仪,在技术上一直以来都领先于全世界的测厚行业

A CMI 900 能够测量包含原子序号22至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,极薄的浸液镀层

（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定最多5层、15 种元素。

B ：精确度领先于世界，精确到0。025um (相对与标准片)

C ：数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求 ；

如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。

D ：统计功能提供数据平均值、误差分析、最大值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。

CMI900/950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状各种尺寸的样品；

E ：可测量任一测量点，最小可达0.025 x 0.051毫米  http://www.zhengyee.com