广东正业科技股份有限公司

电镀层测厚仪，镀层测厚仪，镍层测厚仪，元素分析仪，X射线荧光测厚仪



CMI900(X荧光镀层测厚仪)

CMI900 是一款性价比极高的台式 X 射线荧光光谱仪，应用于涂镀层厚度测量及材料成分分析。

涂镀层厚度测量和/或成分分析，元素范围 Ti - U 

可同时进行多达15层元素成分分析 

测量方法符合ISO 3497，ASTM B568和DIN 50987



应用：

多镀层金属厚度测量 

合金鉴定及化学分析 

电镀液分析 

金成色分析



特点：

标准50瓦微焦X射线管 X荧光/磁感/涡流测厚仪,灵活运用多种分析模型同时分析元素含量和镀层厚度,实现涂镀层厚度的精确测试或组成分析 

 

计数率增加，精度提高 

可升级75瓦光管

多准直器 

计数率和光斑尺寸之间的最佳平衡

镭射聚焦 

改善系统再现性（消除人为干扰）

标准FP软件包 

综合应用模式 

简单校准

开槽式设计样品台，自动寻找适合所设定焦距的Z轴坐标 

提供中文等7种语言界面