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KH7700网络自动温度测试系统的测量主机选用科研的KH1800和1820网络测试卡，在同一个温度测试时，可进行多种不同频率晶体的测试，高频测试时系统可自动进行CO的补偿，系统的操作接面包括：选择菜单，鼠标操作和简便的系统核准，系统可根据所设定的参数，判断晶体PASS或FAIL，系统可选配同时放2个双排式测试圈，一次温度循环可测试508只晶体（视晶体外型而定）系统可测试的参数有：Fs，FL，Rs，CL，C1，L1，Q.Ts，CO/C1.DF，DLD，SpuriousScan.

也可以选择中文操作系统.频率范围:KH1800:1-120MHz，KH1820:1-240MHz.