SP-754PC紫外可见分光光度计光谱扫描 仪器功能
?光度测量 可同时测量1~6个波长处的透过率和吸光度.
?光谱测量 在波长范围内进行透过率、吸光度和能量的图谱扫描,并可进行
各种数据处理如峰谷检测、导数运算、谱图运算等.
?定量测量 单波长、双波长、三波长和多波长测定.1~9点工作曲线1~4次回归.
?动力学测定 在任意设定的波长处进行透过率和吸光度的时间扫描并可进行
各种数据运算.
?数据输出 可进行数据文件和参数文件的存取,测量结果以标准通用的
数据文件格式输出.
技术参数:
性能指标:
测光方式 透过率 吸光度 能量
波长范围 190 nm~1100 nm
光谱带宽 1nm
杂散光 ≤0.03%T 220nm NaI溶液
波长准确度 ±0.3nm
波长重复性 0.1nm
光度范围 -4A~4A
光度准确度 ±0.3%T0~100%T,±0.002A0-0.5A,±0.004A0.5-1A
光度重复性 0.001A0-0.5A,0.002A0.5-1A
稳定性 ≤±0.0004A/h
噪声 ≤±0.0003A
基线平直度 ≤±0.001A
仪器级别:A类
主要特点:
?全新设计的优良的光学系统,高性能的全息闪耀光栅,确保了仪器的低杂散光.
?双光束测光系统,配合设计先进的电路测控系统.使仪器具有高度的稳定性和
极低的噪声.
?全自动的控制系统,先进的设计理念,确保仪器具有高可靠性和高稳定性.
?可拆卸结构的样品室设计,易于更换不同的附件.以满足不同的分析需求.
?宽敞型开放式光源室设计,使灯源更换更加方便.
?关键部件均选用进口器件.保证了仪器性能的高可靠性.
联系人: 马达 021-6051-1068
SP-754PC紫外可见分光光度计光谱扫描