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[供应]供应ZEM-5热电性能分析系统
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- 更新日期:2023-12-27 14:32:44
- 有效期至:2024-12-26
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供应ZEM-5热电性能分析系统
详细信息
ZEM-5热电性能分析系统 
技术特点:
· 适用于研究开发各种热电材料和薄膜材料,提高测量精度
· 温度检测采用C型热电偶,最适合测量Si系列热电材料(SiGe,MgSi等)*HT型
· 真正可测基板上的纳米级薄膜(TF型)
· 最大可测10MΩ高电阻材料
· 标准搭载欧姆接触自我诊断程序并输出V/I图表
· 基于日本工业标准JIS(热电能JIS电阻率JISR1650-2)
 
 
ZEM-5HT
ZEM-5HR
ZEM-5LT
ZEM-5TF
特点
高温型
高电阻型
最大电阻:10MΩ
低中温型
薄膜型
可测在基板上形成的热电薄膜
温度范围
RT-1200℃
RT-800℃
-150℃-200℃
RT-500℃
样品尺寸
直径或正方形:2to4mm2;
长度3~15mm
成膜基板:宽2-4mm,厚0.4-12mm,长20mm
薄膜厚度:≥nm量级
薄膜样品与基板要求绝缘
控温精度
                                      ±0.5K
测量精度
              塞贝克系数:<±7%;  电阻系数:<±7%
测量原理
              塞贝克系数:静态直流电;         电阻系数:四端法
测量范围
             塞贝克系数:0.5μV/K_25V/K;     电阻系数:0.2Ohm-2.5KOhm/10MΩ
分辨率
              塞贝克系数:10nV/K;            电阻系数:10nOhm
气氛
减压He
 
 
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