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测试芯片的过程就是由80C31单片机、74HC573(功能等同74HC373,只是引脚排列不同)、EPROM 27C256组成的单片机系统用存储在EPROM 27C56 内的芯片的逻辑数据与芯片的实际输入输出逻辑关系逐一进行比较，如果相同则确定是该型号芯片。然后把型号送到显示电路，并发出一短音提示。如没有与被测试芯片相同逻辑关系的数据，则认为是坏芯片或是其它种类的芯片，这时显示999，并有三声短音提示。TTL74/54、CMOS40/45 系列芯片的引脚基本上在14～20这个范围。测试时无论被测芯片引脚多少，芯片的１脚恒定在测试座的１脚，这就把１脚对边的正电源脚Vcc固定在测试座的20脚上，由此脚为被测芯片提供+5V电源。根据被测芯片引脚的多少，电源地由测试座的7～10脚提供。由于测试中测试座除了10脚和20脚其余各脚要即能作为输入也能作为输出。80C31的 P1口、P3 口正好能满足要求。因为它们是有上拉电阻的开漏极输出，当作为输入时可被输入的低电平拉低。由于80C31可用的I/O口不够用，所以扩展了一个与 80C31类似的8位准双向I/O口。由74HC573(8D锁存器)74HC05(6非门, 开漏极输出 ) 、74HC245(8三态双向缓冲器)、三极管VT1～VT4等元件组成，137 9855 6637，黄先生，频谱分析仪http://www.china-mch.com

１、接通电源，将待测集成块的脚“1”对准集成电路插座上的脚“1 ”恒定位置,插入插座并锁紧。
２、连续按动“系列选择”键，从LCD显示屏上选出所需的系列号。如74、40、45。
３、按动“型号测试”键，对IC进行测试。如果IC性能合格， 仪器将显示其型号，并呜笛一声；如果IC未能通过测试，仪器将呜笛三声（LCD 仍然显示所选的系列号），此时，测试人应从插座上取下IC，认真检查所有管脚，排除短路、断路及插座接触不良等故障后再次测试，仍然不能通过测试的IC，应判为不合格。
4、多片同型号IC测量时,应先按“型号测试”测出首片型号，再按“性能测试”键，测余下的IC。（在“性能测试”状态下，仪器不再搜索IC型号，因此测量时可大幅度节省时间和电池能量。）IC性能合格，仪器将显示其型号；IC 性能不合格时，仪器将显示“999”，并呜笛三声。
５、对于不知名的数字集成电路，可以按74、40、45三个系列分别进行测试，最终将测出它的型号。

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注意事项：
１、测量IC前，应清理管脚，排除可能造成接触不良的因素。
２、测量IC时，应牢记“对号入座”，避免IC插反。
３、仪器长期不用，应打开后盖，取出电池，避免电池液流出腐蚀仪器。

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