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镀层膜厚测试仪采用独一无二的WinFTM?（版本3（V.3）或版本6（V.6））软件是仪器的核心。它可以使仪器在没有标准片校准并保证一定测量精度的情况下测量复杂的镀层系统，同时可以对包含多达24种元素的材料进行分析（使用WinFTM? V.6软件）.

镀层膜厚测试仪的特点:
X射线激发系统  垂直上照式X射线光学系统  
空冷式微聚焦型X射线管，Be窗  
标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等  
功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准       75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选  
装备有安全防射线光闸  
精度高、稳定性好
强大的数据统计、处理功能 
测量范围宽 二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选  
准直器程控交换系统  最多可同时装配4种规格的准直器  
多种规格尺寸准直器任选： －圆形，如0.1、0.2、0.3等 －方形，如0.05*0.05   －长方形0.3*0.05，0.03*0.2等  

镀层膜厚测试仪的配制:X射线管(钨管)、微焦距，可加NI和AL滤片，高读数氙气体比例接收器，另铜层膜厚分析仪，配有四个准值器和可操控的手动测量台，使用方便、简单。

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