金霖电子(香港)有限公司深圳分公司

合金膜厚测量仪介绍: 
⊙适用于Windows®2000或选择适用于Windows® XP的真Win32位程序带在线帮助功能 
⊙频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的应用
⊙能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使应用的校准简单化
⊙画中画测试件查看和数据显示，带快速移动焦距功能放大试件图像；计算机生成的刻度化的瞄准十字星，并有X-射线光束大小指示器（光束的大小取决于测量的距离） 
⊙图形化的用户界面，测试件的图像显示可插入于测试报告中

合金膜厚测量仪专用于多种复杂镀层的测量．

合金膜厚测量仪优点 
    > 采用国际上最先进的、稳定性最好的射线源，体积小，使用寿命长，易维护。 
    > 设备结构简洁、操作简单、部件更换快速、简单，便于维护。 
    > 快速多点校正法技术保证了系统的长期精度。 
    > 快速、连续、非接触测量、实时显示高精度测量值。 
    > 操作站：提供中英文操作界面(Win2000)。采用web以太网平台，使用最新的JAVA 技术。 
    > 采用双放大技术和独特大电离室，提升测量范围及精度。

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