上海涌明自动化设备有限公司

德国FISCHER菲希尔X射线荧光光谱仪 华东总代理—供应商、厂家、特点、详细说明：
      材料分析－FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY
        X射线荧光法是高效的材料分析工具。它广泛应用于镀层厚度测量，同时也适于进行元素分析。
      可以对几乎任意尺寸和状态的工件进行分析。粉末和糊状材料可以和固体或液体一样进行分析。FISCHERSCOPE® X-Ray XAN® 和XDAL系列是能量分散的高性能X射线荧光光谱仪，它可以对未知材料进行简单，快速而精确的分析。分析范围从铝（Al)到铀（U），即使含量很小也可以测量。
      这些独特的仪器之所以具有如此强大的性能，是因为它使用了带珀耳帖冷却的高光谱分辨率的半导体探测器和用于材料和多镀层分析的WinFTM® V6软件。
      如果与应用工具箱Gold Assay组合在一起，这些仪器系列也是FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY的一部分－－珠宝和贵金属领域快速、无损和精确测量金含量的理想设备。
      1、XAN® 120X射线光谱仪
      贵金属及珠宝首饰材料分析的理想工具
      新款FISCHERSCOPE® X-Ray XAN® 120是一台款现代化桌上X射线光谱仪(EDXRF)。它特别为快速无损地分析珠宝首饰、贵金属而设计。这些首饰和贵金属包括黄白金，铂和银，铑，硬币以及所有的首饰合金和镀层。
      XAN® 120测量准确，使用安全简便，坚固耐用节省维护费用。而且，它符合标准DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨硅-PIN-接收器，配合快速信号处理系统能达到极高的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟，所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定。
      无论您想测量未知样品还是测定未知材料，XAN® 120 配合优异的菲希尔 WinFTM® 运行软件都是您正确的选择。
      采用新改进的基本参数法，无论是无标准片测量还是有标准片测量，都能快速并且准确的获得测量结果。为了简化样品放置，X射线源和高分辨硅-PIN-接收器置于了 XAN® 120 的底部，从而可以采用射线向上的测量技术。
      集成了含十字线、射线位置指示标志、光亮及位置调节的视频显微系统，将使得样品的放置和测量定位变得快捷而容易。现在您不再需要调节测量台或是样品台——只需放下样品即可开始测量。
        长期的稳定性和出色的精确度——对于金优于1‰——是 XAN® 120的优势所在。而且，由于不需要经常进行再校准，从而节省了使用者的时间、精力及经营成本。测量结果可以以Karat、 ‰ 或重量 %显示，并且可以按客户报表打印输出。
      优秀的人体学设计，简单的操作即测量结果的快速计算是对XAN® 120最好的描述。使用安全而简单——无论是对经验丰富还是接受较少培训的员工都是如此。不需要为XAN® 120特别设置一个实验室房间。如果您需要一台出色、准确可靠的测量仪器，XAN® 120 是您正确的选择。 为个人计算机而设计的WinFTM® 测试软件
      先进的Fischer WinFTM® 软件有着无与伦比的性能：完整、简单易用而且不需要补充模块或是软件升级。软件包括 ：
      X射线部件的操作
      控制整个测量过程
      先进的基本参数法可进行无标准片测量
      用受认证的标准片进行校准，可以完成有标准片调校的测量
      可以同时分析材料成分和测量计算镀层厚度
      按照元素波峰进行自动元素识别
      测量值可以以karat， wt% 或 ‰表示
      客户自定义报表工具
  2、FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL X射线光谱仪
      FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL 是一款适用于大批量材料分析的X-射线光谱仪。
      由于可检测元素范围宽至从铝到铀，使得FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL 的应用范围延伸至从工业到科学领域。无论分析应用于冶金上的，地质上的，石化上的还是其它种类的材料，FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL 都是一款强有力的和经济的光谱仪。
      内置的彩色视频头使得X-射线光束快速和精确地定位于被测工件上需要分析的范围。该仪器所提供的性能和特征的集合是在同样价格范围内的材料分析仪中无法找寻到的。
      大测量箱，可编程的X-Y工作台，X-射线从上往下的设计，X-射线发生管和接受器装配系统的Z-轴运行使得设备非常适合于几个被测物体的编程测量和扫描较大工件。
      独特的WinFTM® V6 i软件是该仪器的核心。它可以分析多达24种元素的材料，无须校验标准块，带预估测量精度，以及测量非常复杂的镀层系统。
      3、XDV®-SDD X-射线光谱仪
      您的产品符合RoHS指令吗？
      您收到的黄金与你所付出的相一致吗?
      您的电镀过程是否节省成本并且可靠呢?
      该款仪器特别为颇具挑战性的RoHS/ WEEE分析而研发。而且，它还十分适合于测量黄金及其他贵金属，分析金的成分重复性可达0，5 ‰。
      对于镀层：不仅可以测量其成分比例，还可以测量器厚度!
      XDV®-SDD 是一款真正全能的测试仪器!
      RoHS / WEEE
      可靠地测量Pb， Hg， Cd， Br及Cr元素。在塑料中可达到的测量下限Pb为2 ppm，对Cd为10 ppm。
      RoHS / WEEE对Pb的限制为1000 ppm以及对Cd为100 ppm，仪器能可靠地予以验证。
      塑料样品可以不考虑其厚度而进行准确分析。
      即使是微小的电子元器件或印刷线路板上的镀层系统也可以高精度地分析。
      XY(Z)平台可用来自动扫描印刷线路板。
      WinFTM® V.6 BASIC软件
      在一次测量过程中，最多可测定包括镀层厚度和元素成分比例在内多达24个特征参数。
      可测的镀层厚度小至10纳米。
      大多数情况下，复杂的多镀层系统可以在无标准片（无调校）模式下高精度地分析。
      每个程式在使用最多64片标准片下，可达到最高的准确度。
      这同时也保证了测量结果的可追溯性。
      X射线校准标准片提供DKD 校准证书，遵循DIN EN ISO/IEC 17025标准。
      WinFTM® V.6 软件能精确测量从几个ppm到100%的成分含量。
      4、XAN® 150X射线光谱仪
      XAN® 150特别适合测量和分析超薄镀层，即使镀层的结构十分复杂或是组分含量非常微小，XAN150都能准确测量。
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