供应三丰粗糙度轮廓测量仪一级代理商

产品简介
三丰表面粗糙度/轮廓测量仪 SV-C3100大幅提高的驱动速度(X 轴: 80 mm/s, Z2 轴立柱: 20mm/s) 进一步减少了总的测量时间。为了更长时间地保持直线度，三丰公司采用了抗老化且极耐磨的非常坚固的陶瓷导轨

详细介绍



Formtracer(表面粗糙度/轮廓测量装置)SV-C3100/SV-C4100 

简单介绍 
三丰表面粗糙度/轮廓测量仪 SV-C3100大幅提高的驱动速度(X 轴: 80 mm/s, Z2 轴立柱: 20mm/s) 进一步减少了总的测量时间。
为了更长时间地保持直线度，三丰公司采用了抗老化且极耐磨的非常坚固的陶瓷导轨；驱动器 (X 轴) 和立柱 (Z2 轴) 均配备了高精度线形编码器 (其中Z2 轴上为ABS 型)。因此，在垂直方向对小孔连续自动测量、对较难定位部件的重复测量的重复精度得以提高。 

特长：
本机为电动型支柱，触针式轮廓形状、表面粗度量测两用的复合机。
轮廓形状量测用Z轴检出器搭载Holographic光学尺（SV-C4100）、反射型光学尺（SV-C3100）。
表面粗度量测用Z轴检出装置，可对应ISO/新JIS。
检出器的滑动部为2段式，可提升检出器交换时的操作性。
资料处理软体，可做高难度的轮廓形状、粗度的评价解析。
资料处理装置的通讯系统使用RS-232C。 

表面粗糙度测量

直线度:±(0.05+0.001L)μm*专用于需要高精度测量的工件。

*S4型、H4型、W4型；L为驱动长度(mm)

符合JIS'82/'94/'01,ISO,ANSI,DIN,VDA等表面粗糙度的国际标准。

标准配置：高精度测头(0.75mN/4mN测力)，分辨率高至0.0001μm。

 

自动测量

在与CNC机型配套使用的众多外设选件的支持下，可实现自动测量。

 

轮廓驱动测量

X轴精度:±(0.8+0.01L)μm*Z1轴精度:±(0.8+I0.5HI/25)μm*专用于需要高精度测量的工件。

*SV-C4100S4型、H4型、W4型；L为驱动长度,H为测量高度(mm)

SV-C4100系列的轮廓驱动器配备了激光全息测微计测头，Z1轴宽／窄范围均能达到极高的精度和分辨率。

 

基本技术参数:

基座尺寸(WxH):750x600mm或1000x450mm

基座材料:花岗岩

重量

 主机:140kg(S4),150kg(H4),220kg(W4)

140kg(S8),150kg(H8),220kg(W8)

 控制器:14kg

 遥控箱:0.9kg

电源:100–240VAC±10%,50/60Hz

能耗:400W(主机)

 

轮廓测量技术参数:

X轴

 测量范围:100mm或200mm

 分辨率:0.05μm

 检测方法:反射型线性编码器

 驱动速度:80mm/s、外加手动

 测量速度:0.02-5mm/s

 移动方向:向前／向后

 直线度:0.8μm/100mm,2μm/200mm

*以X轴为水平方向上

 直线位移:±(1+0.01L)μm(SV-C3100S4,H4,W4)

 精度(20°C时)±(0.8+0.01L)μm(SV-C4100S4,H4,W4)

±(1+0.02L)μm(SV-C3100S8,H8,W8)

±(0.8+0.02L)μm(SV-C4100S8,H8,W8)

*L为驱动长度(mm)

 倾角范围:±45°

Z2轴(立柱)

 垂直移动:300mm或500mm

 分辨率:1μm

 检测方法:ABSOLUTE线性编码器

 驱动速度:0-20mm/s、外加手动

Z1轴(检测器)

 测量范围:±25mm

 分辨率:0.2μm(SV-C3100),

 0.05μm(SV-C4100)

 检测方法:线性编码器(SV-C3100),

 激光全息测微计(SV-C4100)

 直线