供应电镀测厚仪

电镀测厚仪是集贵金属检测技术和经验与一身，以独特的产品配置、功能齐全的测试软件、简宜的操作界面来能满足贵金属成分检测的需要，人性化的设计，使测试工作更加轻松完成。测量贵金属使用高效且高精度的半导体接收器，满足贵金属的成分检测和镀层厚度测量的要求，且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计，仪器小巧,是一款桌面式的测量仪器,使仪器操作更人性化、更方便。

电镀测厚仪的特点:
X射线激发系统  垂直上照式X射线光学系统  
空冷式微聚焦型X射线管，Be窗  
标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等  
功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准       75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选  
装备有安全防射线光闸  
精度高、稳定性好
强大的数据统计、处理功能 
测量范围宽 二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选  
准直器程控交换系统  最多可同时装配4种规格的准直器  
多种规格尺寸准直器任选： －圆形，如0.1、0.2、0.3等 －方形，如0.05*0.05   －长方形0.3*0.05，0.03*0.2等     


电镀测厚仪的应用方面: 
罩性金属镀层厚度测量，  例如Zn；Cr；  Cu；  Ag；  Au；Sn等  合金(两样金属元素)镀层厚度测量，  例如：  SnPb；  ZnNi；  及NiP(无电浸镍)在Fe上等 
合金(三檬金属元素)镀层厚度测量，  例如：  AuCuCd在Ni上等 
双镀层厚度测量，  例如：Au／Ni在Cu  上；  Cr／Ni在Cu上；Au／Aq在Ni上；Sn／Cu在黄铜上等 
双镀层厚度测量(其中一层是合金层)，  例如：  SnPb／Ni或Au／PdNi在青铜上等 
三镀层，  例如：  Cr／Ni／Cu在塑胶或在铁上 
金属成份分析，  最多可以分析四种金属元素 
联系人：王生：13316557996
电话：0755-29371655  
传真：0755-29371653   
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