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镀层测厚仪|元素分析仪|CMI900

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供货能力30 套/月

发货地广东省东莞市

更新时间2014/9/29 9:11:19

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规格参数

产品介绍

电镀层测厚仪，镀层测厚仪，镍层测厚仪，元素分析仪，X射线荧光测厚仪

CMI900(X荧光镀层测厚仪)

CMI900 是一款性价比极高的台式 X 射线荧光光谱仪，应用于涂镀层厚度测量及材料成分分析。

涂镀层厚度测量和/或成分分析，元素范围 Ti - U

可同时进行多达15层元素成分分析

测量方法符合ISO 3497，ASTM B568和DIN 50987

应用：

多镀层金属厚度测量

合金鉴定及化学分析

电镀液分析

金成色分析

特点：

标准50瓦微焦X射线管 X荧光/磁感/涡流测厚仪,灵活运用多种分析模型同时分析元素含量和镀层厚度,实现涂镀层厚度的精确测试或组成分析

计数率增加，精度提高

可升级75瓦光管

多准直器

计数率和光斑尺寸之间的最佳平衡

镭射聚焦

改善系统再现性（消除人为干扰）

标准FP软件包

综合应用模式

简单校准

开槽式设计样品台，自动寻找适合所设定焦距的Z轴坐标

提供中文等7种语言界面