X射线荧光测厚仪｜X-ray测厚仪｜X射线测厚仪

供应X射线荧光测厚仪X-ray测厚仪X射线测厚仪介绍

CMI900X射线荧光镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点，在质量管理到不良品分析有着广泛的应用。用于电子元器件，半导体，PCB，汽车零部件，功能性电镀，装饰件，连接器等多个行业。



供应X射线荧光测厚仪X-ray测厚仪X射线测厚仪主要特点



样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量) 

可检测元素范围：Ti22 – U92 

可同时测定5层/15种元素 

精度高、稳定性好 

强大的数据统计、处理功能 

测量范围宽 

NIST认证的标准片 

全球服务及支持



供应X射线荧光测厚仪X-ray测厚仪X射线测厚仪技术参数



主要规格 规格描述 

X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统 

空冷式微聚焦型X射线管，Be窗 

标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等 

功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准 

75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选 

装备有安全防射线光闸 

二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选 

准直器程控交换系统 最多可同时装配6种规格的准直器 

多种规格尺寸准直器任选： 

－圆形，如4、6、8、12、20 mil等 

－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等 



测量斑点尺寸 在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器) 

在12.7mm聚焦距离时，最大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器) 

样品室 CMI900 CMI950 

－样品室结构 开槽式样品室 开闭式样品室 

－最大样品台尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm 

－XY轴程控移动范围 标准：152.4 x 177.8mm 

还有5种规格任选