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FlukeTi40FT热成像仪采用创新的IR-Fusion?技术。IR-Fusion不仅能捕获可见光图像，而且还能提供红外图像，揭开了红外图像分析的神秘面纱。它可帮助用户更好地识别和报告可疑组件，并能够在第一时间完成维修。若要了解FlukeTi40FT热成像仪详细信息，请选择本页侧栏中的IR-Fusion。

FlukeTi40FT热成像仪图片
FlukeTi40FT热成像仪技术指标
成像性能
热学
视场(FOV)*
20毫米镜头23°x17°FOV
10.5毫米镜头42°x32°
54毫米镜头9°x6°
空间分辨率(IFOV)*
2.60mrad
最小焦距*
0.15米
热敏度(NETD)
Ti45:≤0.08°C(80mK)，30°C时
Ti40:≤0.09°C(90mK)30°C时
探测器数据采集/图像频率*
30Hz/60Hz
对焦
SmartFocus；一指通连续聚焦
IR数字缩放
Ti45：2倍
Ti40：-
探测器类型
160x120焦平面阵列，VanadiumOxide(VOx)非制冷微量热型探测器
光谱带
8μm至14μm
数字图像增强
增强的自动全时成像功能
照相机屏显操作模式
Ti45：完全热红外光、完全可见光或热红外光-可见光组合图像。画中画
Ti40：完全热红外光或完全可见光在SmartView软件中合并热红外光-可见光图像。画中画
可见光照相机
1280x1024像素，全色
可见光数字缩放
Ti45：2倍
Ti40：-
温度测量
校准温度范围
Ti45：-20?C至600?C，3量程（-4oF至1112oF）
Ti40：-20?C至350?C，2量程（-4oF至662oF）
量程1
Ti45：-20?C至100?C（-4oF至212oF）
Ti40：-20?C至100?C（-4oF至212oF）
量程2
Ti45：-20?C至350?C（-4oF至662oF）
Ti40：-20?C至350?C（-4oF至662oF）
量程3
Ti45：250?C至600?C（-482oF至1112oF）
Ti40：-
可选-高温
Ti45：高达1200?C(2192oF)
Ti40：-
量程4
Ti45：500?C至1200?C（932oF至2192oF）
Ti40：-
准确度
±2°C或2%（取大者）
测量模式
Ti45：中心点，中心框（区域最小/最大值、平均值），可移动光点/框，用户定义的区域/文本注释，恒温，自动冷、热点检测以及可见彩色超限（上限和下限）警报
Ti40：中心点、中心框（区域最小/最大值、平均值）
发射率校正
0.1至1.0（0.01增量）

回收Fluke热成像仪Ti40FT。