苏州三岩芯电子科技有限公司

Wafer Prober
Precio nano/Precio Precio octo
Wafer/Dicing Frame Prober
WDF 12DP
High-speed Probe Mark Automatic Inspection System
TELPADS -O
Data Management System for Wafer Prober
PN-300
Operation Support System for Wafer Prober
N-PAF
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Wafer      Prober
Precio nano/Precio Precio octo
Wafer/Dicing Frame Prober
WDF 12DP
High-speed Probe Mark  Automatic Inspection System
TELPADS -O
Data Management System for  Wafer Prober
PN-300
Operation Support System for  Wafer Prober
N-PAF
TELFORMULA
Auto Wet Station
EXPEDIUS  +
Auto Wet Station
EXPEDIUS  -i
Gas Chemical Etch System
Certas WING
Single Wafer Cleaning System
CELLESTA +
Single Wafer Cleaning System
CELLESTA -i
Scrubber System
NS300+ HT
Scrubber System
NS300+
Single Wafer Cleaning System
ORION
Single Wafer Cryokinetic  Cleaning System
ANTARES
Batch Spray System
ZETA
Synapse V / Synapse Z
Probus-SiC | SiC Epitaxial  CVD System | Tokyo Electron
Triase+ Ti/TiN | Single Wafer  Deposition | Tokyo Electron
Trias e+ SPAi | Single Wafer  Deposition | Tokyo Electron
Trias e+ W | Single Wafer  Deposition | Tokyo Electron
Coater/Developers
CLEAN TRACK
LITHIUS Pro Z
Coater/Developers
CLEAN TRACK
LITHIUS Pro V /
LITHIUS Pro V-i
Coater/Developers
CLEAN TRACK
LITHIUS Pro /
LITHIUS Pro-i
Coater/Developers
CLEAN TRACK
LITHIUS / LITHIUS i+
Coater/Developers
CLEAN TRACK ACT 12 / CLEAN  TRACK ACT 8
SOD Coater
CLEAN TRACK ACT 12 SOD /  CLEAN TRACK ACT 8 SOD
Photomask Coater/Developer
CLEAN TRACK ACT M
Plasma Etch System
Telius SP
Plasma Etch System
UNITY Me
Plasma Etch System
Tactras
GCIB system
Corrective Etching/Trimming
Ultra Trimmer 30 Corrective  Etch
GCIB system
Material Modification
nFusion 700
DISCO TEL TSK 半导体测试机Prober 探针台电路板，触摸屏维修