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半导体美国博曼（BOWMAN）X射线荧光膜厚测试仪　应用领域：
　　1、分析电子部品电镀层的厚度
　　2、各类五金电镀件的镀层厚度管控分析
　　3、各镀层的成分比例分析。

美国原装博曼（BOWMAN）X射线荧光膜厚测试仪应用领域于分析电子部品电镀层的厚度 ，各类五金电镀件的镀层厚度管控分析，各镀层的成分比例分析等。美国原装博曼膜厚仪用于高分辨硅-PIN-接收器，配合快速信号处理系统能达到极高的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟，所有从13号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量：单一镀层、二元合金层、三元合金层、双镀层等 ，应用于端子，连接器，细小的金线，在五金，汽车配件．线路板，卫浴，等行业，使用安全简便，坚固耐用节省维护费用，高分辨率探测器硅PIN检测器250 ev，配合快速信号处理系统能达到极高的精确度和非常低的检测限

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