铜厚测试仪器探头
可测孔径范围:0.899—3.0mm
可测试zui小孔直径:35mils(899μm)
测量厚度范围:0.08–4.0mils(1–102μm)
电涡流原理:遵守ASTM-E376-96标准的相关规定
准确度:±0.01mil(0.25μm)<1mil(25μm)
精确度:1.2mil(30μm)时,达到1.0%(实验室情况下)
分辨率:0.01mils(0.1μm)
铜厚测试仪器探头
应用电涡流测量技术测量线路板的孔壁厚度。ETP探头采用了独特的温度补偿技术,测量不受线路板的温度影响;同时不受板内层影响,双层板、多层板,甚至在有锡或锡/铅保护层的情况下均能良好工作。测量时利用探头释放出电磁波,当磁场切割金属层时会发生磁场变化,通过计算此变化量计算出孔壁铜厚度。
铜厚测试仪器探头
应用
CMI900X射线荧光镀层测厚仪,有着非破坏,非接触,多层合金测量,高生产力,高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量,从质量管理到成本节约有着广泛的应用。
镀层测厚仪行业
用于电子元器件,半导体,PCB,LED支架,五金电镀,连接器等……多个行业表面镀层厚度的测量。
铜厚测试仪探头http://www.0755djt.com/Products-9731746.html
http://www.ybzhan.cn/st20267/product_9731746.html