广州润湖仪器有限公司

 SXJS-IV变频抗干扰介质损耗测试仪是用于超高压现场介损的测量，用变频抗干扰和傅立叶数字滤波技术，保持强电场干扰下测量数据稳定、可靠测量结果由大屏幕双色液晶屏清晰显示，全中文操作界面，使用极其方便。 二、技术指标 1、抗干扰方式：变频抗干扰 2、试方式：正接法反接法自激法外接法 3、量范围：电容量内接高压<60000PF 4、外接高压:30P~600000PF 5、介损不限，zui小分辨率0.01% 6、确度：电容量±(1.5%读数2PF) 7、介损±(2%读数0.09%) 8、接试验电源：0.5~10KV电压缓升缓降 9、5~65Hz频率可调45/55Hz自动双频测试 10、输出电流200mA 11、源6~50V变频zui大输出电流20A 12、功能：电子万年历 13、准RS232接口100组数据存储 14、条件：供电电源180~240VAC50Hz 

抗干扰介质损耗测试仪:www.shixu99/shixu17-SonList-1163741/