该仪器适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
        主要性能指标
      ※        波长范围及峰值波长:  UV-340探头:λ:(315~370)nm;λP=340nm
    ※        辐照度测量范围:  (0.1~199.9×103)μW/cm2
      ※        紫外带外区杂光:  UV340:小于0.05%
    ※        余弦特性:  符合国家二级光照度标准
    ※        示值相对误差:  ±10%
    ※        响应时间:1秒
    ※        使用环境:  温度(0~40)℃;湿度<85%RH
    ※        尺寸和重量:180mm×80mm×36mm;0.2kg
    ※        电源:    9V积层电池(6F22型)一只