南昌星枫仪器有限公司

涂层测厚仪leeb210
覆层测厚仪采用磁性和电涡流两种测量方法，可无损地检测磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度，以及非磁性金属基体上非导电的绝缘覆盖层的厚度。

涂层测厚仪leeb210技术参数：

  型号 leeb 210
测头类型 F1
工作原理 磁感应
测量范围 0~1000μm
低限分辨率 0.1μm
一点校准 ±（3%H+1）
二点校准 ±[（1~3%)H+1]
最小曲率半径mm 凸1.5
最小面积直径mm Φ7
基本临界厚度mm 0.5
温度 0~40℃
湿度 20%~90%
磁场 无强磁场环境
电源 AAA型碱性电池1.5V两节
外形尺寸 115×70×30mm（主机）
重量 130g