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光耦组成的脉冲电路图原理及应用光耦是由发光二极管和光敏三极管组合起来的器件，发光二极管是把输入边的电信号变换成相同规律变化的光，而光脉敏三极管是把光又重新变换成变化规律相同的电信号，因此，光起着媒介的作用。由于光电耦合器抗干扰能力强，容易完成电平匹配和转移，又不受信号源是否接地的限制。所以应用日益广泛。一、用光电耦合器组成的多谐振荡电路用光电耦合器组成的多谐振荡电路见图1。当图1（a）刚接通电源Ec时，由于UF随C充电而增加，直到UF≈1伏时，发光二极管达到饱和，接着三极管也饱和，输出Uo≈Ec。三极管饱和后，C放电（由C→F→E1→Er和由C→RF→+Ec→Re两条路径放电），uo减小，二极管在C放电到一定程度后就截止，而三极管把储存电荷全部移走后，接着也截止，uo为零。三极管截止后，电源Ec又对C充电，重复上述过程，得出图示的尖峰输出波形，其周期，为（当RF》Re时）：T=C（RF+Re）In2图1（b）是原理相同的另一种形式电路。
 用光电耦合的多谐振荡器图1、用光电耦合的多谐振荡器二、用光电耦合器组成的双稳态电路用光电耦合器组砀双稳态电路如图2所示。电路接通电源后的稳态是BG截止，输出高电位。在触发正脉冲作用下，ib增加使BG进入放大状态，形成ib↑→if↑→ib↑↑，结果BG截止，这种电路比普通的触发顺具有更高的抗干扰能力。若设BG的极限电流Ic=6毫安，则R2=取为：R2≥(13-1)/(6×)=24欧限流电阻R1可按下式计算R1≥(E-IbmRce2min)/Ibm式中：Ibm是晶体管的最大基极电流，Rce2min是光敏三极管集射间的最小电阻值。
 用光电耦合的双稳态电路图2、用光电耦合的双稳态电路三、用光电耦合器组成的整形电路由于用光电耦合器组成的脉冲耦合电路，其前后沿时间都比较大，因此在耦合器后面接一级晶体管的整形放大电路。见表一列出几种整形电路的应用实例。
 用光电耦合器组成的斩波电路四、用光电耦合器组成的斩波电路用光电耦合器组成的斩皮电路见表二
 用光电耦合器组成的斩皮电路
如何确定光耦合器性能的好坏确定光耦合器的好坏首先确定光耦合器输大端发光二极管的好坏。如图1所示，将万用表置于Rx100挡或Rx1k挡，黑表笔接发光二极管的正极，红表笔接发光二极管的负极，此时万用表显示电阻值应为几百欧。2kΩ左右，然后对调表笔再测试，阻值应接近∞，表明输入端的发光二极管是好的。如出现阻值与上述阻值相差甚远，表明发光二极管性能不良或是已经损坏。
 测试光耦合器的输入端图1测试光耦合器的输入端测试光耦合器输出端的光敏器件，如光敏器件是光敏晶体管，将万用表置于Rx1k挡或Rx1O0挡，按图2所示的接好，黑表笔接光敏晶体管的集电极，红表笔接光敏晶体管的发射极，万用表的显示应为接近幻，交换表笔，阻值仍为∞，表明输出端的光敏晶体管是好的。如果测试的阻值与上述相差太多表明光敏晶体管性能不良或损坏。
 测试光耦合器的输出端图2测试光耦合器的输出端如果输出端不采用光敏晶体管的其他类型光耦合器，应根据不同结构的光敏器件进行判断。