广州五禾杰电子科技有限公司

光耦组成的脉冲电路图原理及应用光耦是由发光二极

管和光敏三极管组合起来的器件，发光二极管是把输入边

的电信号变换成相同规律变化的光，而光脉敏三极管是把

光又重新变换成变化规律相同的电信号，因此，光起着媒

介的作用。由于光电耦合器抗干扰能力强，容易完成电平

匹配和转移，又不受信号源是否接地的限制。所以应用日

益广泛。一、用光电耦合器组成的多谐振荡电路

用光电耦合器组成的多谐振荡电路见图1。当图1（a）

刚接通电源Ec时，由于UF随C充电而增加，直到UF≈1伏时

，发光二极管达到饱和，接着三极管也饱和，输出Uo≈Ec

。三极管饱和后，C放电（由C→F→E1→Er和由C→RF

→+Ec→Re两条路径放电），uo减小，二极管在C放电到一

定程度后就截止，而三极管把储存电荷全部移走后，接着

也截止，uo为零。三极管截止后，电源Ec又对C充电，重

复上述过程，得出图示的尖峰输出波形，其周期，为（当

RF》Re时）：T=C（RF+Re）In2图1（b）是原理

相同的另一种形式电路。
 用光电耦合的多谐振荡器图1、用光电耦合的多谐振

荡器二、用光电耦合器组成的双稳态电路用光

电耦合器组砀双稳态电路如图2所示。电路接通电源

后的稳态是BG截止，输出高电位。在触发正脉冲作用下，

ib增加使BG进入放大状态，形成ib↑→if↑→ib↑↑，结

果BG截止，这种电路比普通的触发顺具有更高的抗干扰能

力。若设BG的极限电流Ic=6毫安，则R2=取为：R2≥

(13-1)/(6×)=24欧限流电阻R1可按下式计算

R1≥(E-IbmRce2min)/Ibm式中：Ibm是晶体管的最

大基极电流，Rce2min是光敏三极管集射间的最小电阻值

。
 用光电耦合的双稳态电路图2、用光电耦合的双稳态

电路三、用光电耦合器组成的整形电路由于用

光电耦合器组成的脉冲耦合电路，其前后沿时间都比较大

，因此在耦合器后面接一级晶体管的整形放大电路。见表

一列出几种整形电路的应用实例。
 用光电耦合器组成的斩波电路四、用光电耦合器组

成的斩波电路用光电耦合器组成的斩皮电路见表二
 用光电耦合器组成的斩皮电路
如何确定光耦合器性能的好坏确定光耦合器的好坏首

先确定光耦合器输大端发光二极管的好坏。如图1所示，将

万用表置于Rx100挡或Rx1k挡，黑表笔接发光二极管的正

极，红表笔接发光二极管的负极，此时万用表显示电阻值

应为几百欧。2kΩ左右，然后对调表笔再测试，阻值应接

近∞，表明输入端的发光二极管是好的。如出现阻值与上

述阻值相差甚远，表明发光二极管性能不良或是已经损坏

。
 测试光耦合器的输入端图1测试光耦合器的输入端

测试光耦合器输出端的光敏器件，如光敏器件是光敏

晶体管，将万用表置于Rx1k挡或Rx1O0挡，按图2所示的接

好，黑表笔接光敏晶体管的集电极，红表笔接光敏晶体管

的发射极，万用表的显示应为接近幻，交换表笔，阻值仍

为∞，表明输出端的光敏晶体管是好的。如果测试的阻值

与上述相差太多表明光敏晶体管性能不良或损坏。
 测试光耦合器的输出端图2测试光耦合器的输出端

如果输出端不采用光敏晶体管的其他类型光耦合器，

应根据不同结构的光敏器件进行判断。