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名称：XZK-613用途：该试验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件、电子零组件、金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验;半导体、被动组件、零件接脚氧化试验。 特点： 1.微电脑温度控制器P.I.D.?+?P.W.M.?+?S.S.R.?控制LED数字显示. 2.白金温度感知器（PT-100）与精确的温度可控制解析能力0.1C. 3.蒸汽试验目标温度设定控制/蒸汽试验运转计时时间设定控制. 4.全自动安全保护装置、双重高温保护/蒸汽用水断水空焚保护装置.. 主要技术参数： 测试槽尺寸：92*285*40（W*D*H）mm???3/4SET 加热时间：RT～98℃About50min 温度稳定度：±0.3℃ 内箱材质：304﹟不锈钢 外箱材质：烤漆涂装或304﹟不锈钢符合标准：GB、ISO、ASTM、UL、CEN…