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TS系列冷热冲击试验箱设备规格系列齐全 –提篮式、三厢式、水平移动三种冲击模式可供用户选择，充分满足不同用户的各种要求；设备还可提供标准高低温试验功能，实现了温度冲击和高低温试验的共同兼容；高强度、高可靠性的结构设计- 确保了设备的高可靠性；

冷热冲击试验箱，温度冲击试验箱，高低温冲击试验箱  的详细介绍
TS系列冷热冲击试验箱，温度冲击试验箱，高低温冲击试验箱
*设备特点
规格系列齐全 –提篮式、三厢式、水平移动三种冲击模式可供用户选择，充分满足不同用户的各种要求；
设备还可提供标准高低温试验功能，实现了温度冲击和高低温试验的共同兼容；
高强度、高可靠性的结构设计- 确保了设备的高可靠性；
工作室材料为SUS304不锈钢 - 抗腐蚀、冷热疲劳功能强，使用寿命长；
高密度聚氨酯发泡绝热材料- 确保将热量散失减到最小；
表面喷塑处理- 保证设备的持久防腐功能和外观寿命；
高强度耐温硅橡胶密封条 – 确保了设备大门的高密封性；
多种可选功能（测试孔、记录仪、测试电缆等）保证了用户多种功能和测试的需要；
大面积电热防霜观察窗、内藏式照明 –可以提供良好的观察效果；
环保型制冷剂 –确保设备更加符合您的环境保护要求；

*可根据用户要求定制尺寸/定制使用指标/定制各种选配功能

*温度控制
可实现温度定值控制和程序控制；
全程数据记录仪（可选功能）可以实现试验过程的全程记录和追溯；
每台电机均配置过流（过热）保护/加热器设置短路保护，确保了设备运行期间的风量及加热的高可靠性；
USB接口、以太网通讯功能，使得设备的通讯和软件扩展功能满足客户的多种需要；
采用国际流行的制冷控制模式，可以0%~100%自动调节压缩机制冷功率，较传统的加热平衡控温模式耗能减少30%；
制冷及电控关键配件均采用国际知名品牌产品，使设备的整体质量得到了提升和保证；

*设备满足以下标准
GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件
GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验A：低温
GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验B：高温
GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则
GJB 150.3A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第3部分：高温试验
GJB 150.4A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第4部分：低温试验
GJB 150.5A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第5部分：温度冲击试验
GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法107 温度冲击试验

型 号
 
 
TSL-80-A
TSU-80-W
TSS-80-W  TSL-150-A
TSU-150-W
TSS-150-W  TSL-225-W
TSU-225-W
TSS-225-W  TSL-408-W
TSU-408-W
TSS-408-W
标称内容积（升）  80  150  200  300
试验方式  气动风门切换2温室或3温室方式
性能  高温室  预热温度范围  ＋60～＋200℃
升温速率※1  ＋60→＋200℃≤20分钟
低温室  预冷温度范围  －78－0℃
降温速率※1  ＋20→－75℃≤80分钟
试验室  温度偏差  ±2℃
温度范围  TSL:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃
TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃
TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃
温度恢复时间※2  5分钟以内 www.oven.cc
试样搁架承载能力  30kg
试样重量  7.5kg  7.5kg  10kg  10kg
内部尺寸（mm）  W  500  600  750  850
H  400  500  500  600
D  400  500  600  800
外形尺寸（mm）※4  W  1460  1560  1710  1880
H  1840  1940  1940  2040
D  1500  1600  1700  1900
※1温度上升和温度下降均为各恒温试验箱单独运转时的性能。
※2恢复条件：室温为＋25℃和循环水温为＋25℃，试样是塑料封装集成电路。（均布）
 
型号
 
 
TSL-80-A
TSU-80-W
TSS-80-W
TSL-150-A
TSU-150-W
TSS-150-W
TSL-225-W
TSU-225-W
TSS-225-W
TSL-408-W
TSU-408-W
TSS-408-W
标称内容积（升）
80
150
200
300
试验方式
气动风门切换2温室或3温室方式
性能
高温室
预热温度范围
＋60～＋200℃
升温速率※1
＋60→＋200℃≤20分钟
低温室
预冷温度范围
－78－0℃
降温速率※1
＋20→－75℃≤80分钟
试验室
温度偏差
±2℃
温度范围
TSL:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃
TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃
TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃
温度恢复时间※2
5分钟以内
试样搁架承载能力
30kg
试样重量
7.5kg
7.5kg
10kg
10kg
内部尺寸（mm）
W
500
600
750
850
H
400
500
500
600
D
400
500
600
800
外形尺寸（mm）※4
W
1460
1560
1710
1880
H
1840
1940
1940
2040
D
1500
1600
1700
1900
※1温度上升和温度下降均为各恒温试验箱单独运转时的性能。
※2恢复条件：室温为＋25℃和循环水温为＋25℃，试样是塑料封装集成电路。（均布）

  冷热冲击试验箱规格表(Programmable Thermal Shock Tster)
———— 不符合此规格◎符合此规格★可配增加此功能※可配增加LN2功能
试验规范
  驻留温度(℃)
(exposure temp.)
驻留温度时间(Min)
(exposure time)
覆归时间
(recovery time)
  周期
或次数
试验起
始点