深圳市杰瑞试验设备有限公司

一、五金组件温度冲击试验箱标准产品用途

    温度冲击试验箱主要用于测试零部件、材料结构或复合材料，在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，藉以在最短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。该产品即适用于质量控制的实验室，确定电工电子产品在贮存、运输和使用期间可能遇到的温度迅速变化的条件下的适应性，又可满足生产过程中筛选商用和产品。适用的对象包括金属，塑料，橡胶，电子……等材料，可作为其产品改进的依据或参考。

    蓄热式冷热冲击不需要使用液态气体（LN2　或 LCO2）辅助降温，待测物完全静止测试方式是当前电子部品测试、研究、以及半导体大量选用，可大量节省耗材测试费用，操作快捷、高信赖度，是本公司经多年研究开发的高性能试验机，为客户提供长期可靠的测试工具。

二、五金组件温度冲击试验箱标准产品特点

温度冲击试验箱(三箱)的三箱设备区分为：高温区、低温区、测试区三部分，测试产品置于测试区，冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击，  测试产品为静态式。

采用触控式彩色液晶显示人机界面控制器，操作简单、学习容易。

温度控制精度高，全部采用PID自动演算控制。

冲击方式应用风路切换方式将温度导入测试区，做冷热冲击测试。

高温冲击或低温冲击时，最大时间可达999H，最大循环周期可达9999次。

系统可作自动循环衙擎或手动选择性冲击并可设定二区或三区冲击及冷冲热冲启始。

冷却采二元冷冻系统，降温效果快速，冷却方式为水冷式。

试料槽完全静止，可由测试孔外加负载配线。

蓄热方式可避免使用职业伤害。（注：液态气体所产生发气，吸入肺部致使肺部氧气量减少，    而产生工作倦怠，集中力降低）。

蓄热式冷热冲击不需要使用液态气体（LN2　或  LCO2）辅助降温，待测物完全静止测试方式是当前电子部品测试、研究、以及半导体大量选用，可大量节省耗材测试费用，操作快捷、高信赖度，是本公司经多年研究开发的高性能试验机，为客户提供长期可靠的测试工具。

可选择始动位置，高温或低温开始循环。

具有预约起动功能。

可设定循环次数及自动除霜。

可设定循环次数及除霜次数自动（手动）除霜。运转中状态显示及曲线，异常及故障点显示说明及排除方法。

有异常或故障显示及排除方法说明。

欧美原装高效率复叠压缩冷冻机组，运转噪音低，省能源之设备

多重保护装置，有效的保障系统的安全可靠运行

三、五金组件温度冲击试验箱标准执行与满足标准

GB/T2423.1-1989 电工电子产品基本试验规程试验A：低温试验方法

GB/T2423.2-1989电工电子产品基本试验规程试验B：高温试验方法

GJB360.7-87 温度冲击试验

SJ/T10187-91Y73 系列温度变化试验箱—箱式

GJB150.3-86        GJB150.5-86 

GJB150.4-86 电子冷热冲击试验箱，电子产品冷热冲击试验箱，电子产品冷热冲击试验机

四、五金组件温度冲击试验箱标准产品型号及尺寸：(W×H×D)(mm)

JR-WD-50 内箱尺寸：350×350×400 外箱尺寸：1560×1750×1440

JR-WD-80 内箱尺寸：500×400×400 外箱尺寸：1700×1800×1440

JR-WD-100 内箱尺寸：600×400×400 外箱尺寸：1800×1800×1440

JR-WD-150 内箱尺寸：600×500×500 外箱尺寸：1800×1900×1540

JR-WD-250 内箱尺寸：700×600×600 外箱尺寸：1900×2000×1640

JR-WD-480 内箱尺寸：800×800×750 外箱尺寸：2020×2250×2150

五、五金组件温度冲击试验箱标准主要技术参数:

1、温度范围：低温(B：-40 C：-55 D：-65)～高温+150℃

2、高温箱： +60℃～200℃

3、低温箱： 0℃～-80℃

4、温度波动度：±0.5℃

5、温度均匀：±2℃

6、升温速率：≤5℃/min

7、降温速率：≤5℃/min

8、预冷下限温度：≤-80℃

9、电源：380V±10﹪ 50Hz

六、温度冲击试验箱采用整体式组合结构形式，即试验箱由位于上部的高温试验箱，位于下部的低温试验箱体、位于后部的制冷机组柜和位于左侧后板上的电器控制柜（系统）所组成。此方式箱体占地面积小、结构紧凑、外形美观，制冷机组置于独立的机组箱体内，以减少制冷机组运行时的震动、噪声对试验箱的影响，同时便于机组的安装和维修，电器控制面板置于试验箱的左侧板上以便于运行操作。