产品应用:非饱和高压加速老化试验机高压加速寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间,用于调查分析何时出现电子元器件,和机械零件的摩耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验。
随着半导体可靠性的提高,目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效,因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间,采用了最新的压力蒸煮锅试验方法。
HAST非饱和高压加速老化试验机广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验。
技术创新:
☆独家采用全自动补充水位之功能,试验永不中断.
☆试验过程的温度、湿度、压力,是真正读取相关传感器的读值来显示的,而不是通过温湿度的饱和蒸汽压表计算出来的,真正体现了实际的试验参数。
☆干燥设计,试验终止采用电热干燥设计确保测试区(待测品)的干燥,确保稳定性。
☆精准的压力/温度对照显示,完全符合温湿度压力对照表要求。
☆开始运转时流水器自动排出未饱和蒸气以达到最佳蒸气质量。
☆高压加速老化试验机内箱压力愈大时,packing会有反压会使其与箱体更紧密结合,与传统挤压式完全不同,可延长packing寿命.
更多详细产品信息请浏览::
www.riukai.cn
www.riukai.net
www.riukai.com
HAST非饱和高压加速老化试验箱