东莞市永雄检测仪器有限公司

永雄检测仪器有限公司生产的半导体hast老化试验箱採用进口耐高温电磁阀双路结构，在程度上降低了使用故障率，独立蒸汽发生室，避免蒸汽直接衝击产品，以免造成产品局部破坏。门锁省力结构，解决第一代产品圆盘式手柄的锁紧困难的缺点。

半导体hast老化试验箱技术参数：

1、型号：PCT-25内箱Φ25×40㎝

2、型号：PCT-30内箱Φ30×50㎝

3、型号：PCT-40内箱Φ40×60㎝

4、型号：PCT-50内箱Φ50×70㎝

5、温度范围：100℃～132℃

6、湿度范围：100%RH饱和蒸汽

7、压力范围：大气压+0～4㎏/cm2

半导体hast老化试验箱箱体特性：

1、试验过程自动运转至完成结束、使用简便。

2、双重过热保护装置，当锅内温度过高时，机器鸣叫警报并自动切断加热电源。

3、LED数字型温度控制器可作精确试验温度之设定、控制及显示，PID控制误差±0.1℃。

4、LED数字型定时器，当锅内温度到达后才开始计时以确保试验完全。

5、精准的压力、温度对照显示。

6、运转时流水器自动排出未饱和蒸汽以达到蒸汽质量。

7、试验过程中水位不足时能自动补充水位之功能，试验不中断，确保使用安全。

8、锅内安全装置，锅门若未关紧则机器无法启动。

9、安全阀，当锅内压力超过工作值自动排气泄压。

10、门盖保护，ABS材质制成可防止操作人员接触烫伤。

11、一体成型硅胶门垫圈，气密度良好，且使用寿命长。

半导体hast老化试验箱产品特点：

1.採用进口耐高温电磁阀双路结构，在程度上降低了使用故障率。

2.独立蒸汽发生室，避免蒸汽直接衝击产品，以免造成产品局部破坏。

3.门锁省力结构，解决第一代产品圆盘式手柄的锁紧困难的缺点。

4.试验前排冷空气试验中排冷空气设计(试验桶内空气排出)提高压力稳定性、再现性.

5.超长效实验运转时间，长时间实验机臺运转400小时.

6.水位保护，透过试验室内水位Sensor检知保护.

7.tank耐压设计，箱体耐压力(140℃)2.65kg，符合水压测试6kg.

8.二段式压力安全保护装置，采两段式结合控制器与机械式压力保护装置.

9.安全保护排压钮，警急安全装置二段式自动排压钮

半导体hast老化试验箱用途：

半导体hast老化试验箱广泛应用于线路板，多层线路板，IC，LCD，磁铁等产品之密封性能的检测，测试其制品的耐厌性，气密性。确保质量是永雄生存的前提和发展的保证。永雄只有提供满足客户需求的YOU质产品和服务，才能在激烈竞争中赢得市场，赢得客户，为公司赢得更大的发展空间。更多永雄检测仪器半导体hast老化试验箱相关详情请联系我们永雄