东莞市同创仪器有限公司

 

工业CT断层扫描测量仪 

原本不能检测或者非常耗时的和高成本的工件检测，现在可以用断层扫描分析技术快速明确地检测出误差。 

测量技术的革命

Metrotomgraphy，融合了计量学和层析X射线摄影法，开创了不可预期的可能性。在此之前只能检测或者根本不能进行质量保证检测的场合，现在可以进行高精度和无损测量。

断层扫描分析如同在工件内部测量：所有采集的数据可用于质量保证的范围和进行评估。无损检测技术，例如：装配检查，损伤和气孔分析，材料检验或损坏检查，如同测量评估、逆向工程应用或几何比较一样可行。

重要特征
深思熟虑的设计

三维计算机断层扫描分析带有微聚焦X射线管和探测器 用于装夹工件的转台和移动系统

安全技术

全防护的测量间 符合DIN54113标准的用于结构类型许可全封闭仪器的防护射线条例(0.5mr/h外罩) 符合人体工程学的优化设计（特设的上料位置）

机器技术

 

蔡司转台，配有直接驱动高敏感性的探测系统 

久经考验的线性技术

蔡司的精密机械组件 导轨误差补偿（CAA计算机辅助精度修正） 蔡司原装转台，配有直接驱动 自产的气浮轴承 分辨率：0.036˝ 最大负载（中心）：500N

传感器
微聚焦X射线管

高电压：10 – 225 keV 电子管电流：5 – 3000 μA 目标功率：最大320 W 反射角：50°锥角 速流发射角：30°锥角 焦点尺寸：> 7 μm平板式探测器 带有超高敏感性的探测系统 1024 x 1024 像素每 400 μm²用于三维CT 低失真，数字式无线电复制 标签：蔡司三坐标培训  蔡司三坐标Spetrum  蔡司三坐标分类：工业CT 断层扫描
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