北京时代华德科技有限公司

产品介绍成量内径千分尺通过组合"接长杆”和测微头可以扩大测量范围。测微头表面镀暗，并采用激光刻线及标志，通过“校对卡板”可进行“微测头”零位调整。硬质合金测量面。
内径千分尺（两点）
Φ16*50-160mm
Φ16*50-250mm
Φ16*50-600mm
Φ16*100-1000mm
Φ16*100-1200mm
Φ16*100-1400mm
Φ16*100-1500mm
Φ16*100-2000mm
内径千分尺（两点接长杆延长杆）
Φ38*150-2000mm
Φ38*150-3000mm
Φ38*150-4000mm
Φ53*150-5000mm
Φ53*150-6000mm
产品特点：
量杆淬火处理，工作面具有高耐磨性；
凡蓝色喷塑接长杆内的“量杆”为可调式结构；
通过组合“接长杆”和测微头可以扩大测量范围；
测微头表面镀暗铬，并采用激光刻线及标志；
接长杆等表面镀暗铬或蓝色喷塑处理；
通过“校对卡板”可进行“测微头”零位调整；
硬质合金测量面。
产品属性两点式内径千分尺
带有两个用于测量内尺寸测砧，并以螺旋副作为中间实物量具的内尺寸测量器具。 
1、外观   
两点内径千分尺的测量面上下不应有影响使用性能的锈蚀、碰伤、划痕、裂纹等缺陷。   
2、材料
接长杆应选择钢或其他类似性能的材料制造。测微螺杆和测砧应选择合金工具钢或其他类似性能的材料制造，其测量面宜镶硬质合金或其他耐磨材料。   
3、测微螺杆   
测微螺杆和螺母之间在全量程范围内应充分啮合且配合应良好，不应出现卡滞和明显窜动。   
4、锁紧装置
两点内径千分尺应具有能有效地锁紧测微螺杆的装置；当锁紧时，两测量面间的距离与未锁紧时的变化差不应大于2.0μm。   
成量两点式内径千分尺量杆淬火处理，工作面具有高耐磨性；
凡蓝色喷塑接长杆内的“量杆”为可调式结构；
通过组合“接长杆”和测微头可以扩大测量范围；
测微头表面镀暗铬，并采用激光刻线及标志；
接长杆等表面镀暗铬或蓝色喷塑处理；
通过“校对卡板”可进行“测微头”零位调整；
硬质合金测量面。
使用方法内径千分尺用于内尺寸精密测量，正确测量方法 
1.内径千分尺在测量及其使用时，必需用尺寸最大的接杆与其测微头连接，依次顺接到测量触头，以减少连接后的轴线弯曲。
2测量时应看测微头固定和松开时的变化量。
3在日常生产中，用内径尺测量孔时，将其测量触头测量面支撑在被测表面上，调整微分筒，使微分筒一侧的测量面在孔的径向截面内摆动，找出最小尺寸。然后拧紧固定螺钉取出并读数。这样就存在着姿态测量问题。姿态测量：即测量时与使用时的一致性。
4内径千分尺测量时支承位置要正确。接长后的大尺寸内径尺重力变形，涉及到直线度、平行度、垂直度等形位误差。其刚度的大小，具体可反映在“自然挠度”上。理论和实验结果表明由工件截面形状所决定的刚度对支承后的重力变形影响很大。为保证刚性，在我国国家标准中规定了内径尺的支承点要在（2/9）L 处和在离端面 200 mm 处，即测量时变化量最小。并将内径尺每转 90°检测一次，其示值误差均不应超过要求。主要用途内径千分尺是利用螺旋副原理对主体两端球形测量面间分隔的距离，进行读数的通用内尺寸测量工具。
成量内径千分尺通过组合"接长杆”和测微头可以扩大测量范围。测微头表面镀暗，并采用激光刻线及标志，通过“校对卡板”可进行“微测头”零位调整。硬质合金测量面。
内径千分尺（两点）
Φ16*50-160mm
Φ16*50-250mm
Φ16*50-600mm
Φ16*100-1000mm
Φ16*100-1200mm
Φ16*100-1400mm
Φ16*100-1500mm
Φ16*100-2000mm
内径千分尺（两点接长杆延长杆）
Φ38*150-2000mm
Φ38*150-3000mm
Φ38*150-4000mm
Φ53*150-5000mm
Φ53*150-6000mm
注意事项 内径千分尺（两点）有以下三种较为常见的故障
 1、内径测微头零位不准
     校对卡规“内径测微头”零位进行校对，若不准确则应调整。调整时将“固定套管”上的“螺钉”松开，利用扳手来回转动“固定套管”并使零位对准，最后将“固定套管”上的“螺钉”拧紧。
注意事项：
   （1）在用“校对卡规”校对“内径测微头”零位前，应检查“校对卡规”两量钳是否松动，若松动则将其两测螺钉拧紧。
   （2）为保证测量的准确，要求内千位于垂直被测工件轴的截面上。在旋转“微分筒”时，其旋转力不应过大，活动侧头充分接触到工件被测面即可。
2、压线或离线
     排除方法
   （1）I型内径测微头的压线或离线调整与零位调整方法相同。
   （2）除I型