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[供应]泰勒-霍普森非接触式轮廓仪

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泰勒-霍普森非接触式轮廓仪详细信息

一、仪器特点：

1.泰勒-霍普森非接触式轮廓仪CCI MP是一种高级的测量干涉仪（非接触式3D轮廓仪）。它采用享有专利的新型关联算法，来查找由我们的精密光学扫描装置产生的干涉图的相干峰和相位。

2.CCI MP对于很多需要进行高精度3D轮廓分析的应用非常有用。转台上可以同步装配各种各样的标的物，因而可测量多种类型的表面。全自动的工作台和自动测量程序进一步增强了测量的灵活性。

3.泰勒-霍普森非接触式轮廓仪CCIMP具有功能多、用途广的优点。反射率为0.3%至100%的抛光表面、粗糙表面、曲面、平面或台阶面，都能使用一种算法进行测量，不需要为不同的表面改变模式，也不用担心会选择错误的模式。可测量的材料类型包括：玻璃、液体墨水、光刻胶、金属、聚合物和糊剂。

二、仪器技术参数：

1.1048x1048像素阵列，视场广，高分辨率

2.经过改良的新型X、Y、Z拼接，量程多达100毫米

3.RMS重复精度<0.2埃，阶跃高度重复精度<0.1%

4.全量程埃级分辨率

5.多语言版本的Windows7，64位软件

三、CCI光学装置：

无论对分析速度的要求有多高，创新的CCI光学装置非接触式光学轮廓仪都能为您提供精密的3D表面测量结果。高分辨率相机与1/10埃垂直分辨率相结合，无论是测量非常粗糙的表面，还是测量极其光滑的表面，都能获得令人不可思议的详细分析。

CCI光学装置与光学研究人员和科学家的专业知识保持与时俱进，能满足光学领域的严苛测量要求。CCI光学装置将强大的尺寸及粗糙度分析软件与无与伦比的工程设计融于一体，是一种非常适合用于粗糙度测量的检验工具。CCI独特的薄膜厚度测量功能，进一步完善了为光学工业而设计的出色计量包装。

1.2048x2048像素阵列，视场广，高分辨率

2.全量程0.1埃的分辨率

3.轻松测量反射率为0.3%-100%的各种表面

4.RMS重复精度<0.2埃，阶跃高度重复精度<0.1%

5.多语言版本的64位控制和分析软件

更多泰勒轮廓仪产品详见：risechinash/ranchao-Products-16268783/

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