一、薄膜测厚仪简介
薄膜测厚仪适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
二、薄膜测厚仪技术参数
1、测量范围:0~2mm(常规)、0~6mm;12mm(可选)
2、分辨率:0.1μm
3、测量速度:10次/min(可调)
4、测量压力:17.5±1kPa(薄膜)
5、接触面积:50mm2(薄膜)
6、电 源:AC 220V 50Hz
7、外形尺寸:300 mm (L)×275 mm (B)×300 mm (H)
8、净 重:33kg