Agilent4287A射频测试仪HP4287A射频测试仪 
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1MHz~3GHz,以100KHz分档 
  ·阻抗测量范围宽,从200mΩ到3KΩ 
    · 在低测度信号电平上具有优良的测量重复性 
  ·基本精度为1% 
  ·高速测量9ms 
  Agilent4287A射频测试仪 
  Agilent4287A射频测试仪LCR在1MHz~3GHz频率范围可以提供精确,可靠和快速测量,以
改进生产线上对电子元件进行测试的质量和生产率。与反向测量技术不同,采用直流电压测量技
术能在大的阻抗范围进行精确测量。 
   
  生产率高,质量可靠 
  4287A适于在射频范围对电子元器件进行测试。4287A的测量非常快。此外,在小测试电
流(100μA)优良的测试重复性还可以显著提高生产率,因为所需的取平均过程非常短。 
   
  系统组建简单 
  测试头电缆(1m或利用延伸电缆时为2m)很容易接到(元件固定装置的)被测件点测件接点
附近,而不会使误差有任何增大。内置比较器功能,高速GPIB处理器接口可用来简化与元件固定
装置和PC机的组合。增强的比较器功能可以使复杂的仓室适用于多频或阵列芯片测试。 
   
  便于使用 
  8.4英寸彩色显示器能清楚观察测量设置和结果。新研制的用户接口使操作过程更为方便
且无差错。内置统计分析功能可以提供监视测试质量和效率的过程。可选用的LAN接口有助于统一
进行生产监控。此外,若干APC-7SMD测量夹具可以与4287所提供的夹具架和APC-3.5转APC-7适配
器联用,从而无需制作专用夹具。