南京金凌环试仪器设备有限公司

半导体电阻率测试仪http://www.ruike17.cn/nbruike-Products-17372932/主要技术指标：

电源：220V交流

可测晶片直径(最大)Ф100mm，方形230×220mm

恒流源：电流量程为0.01～1mA连续可调，误差≦±0.5%。

数字电压表：量程：0.1～200mV，最大分辨率：100μV

电阻率显示：三位半数字显示：小数点、极性、过载、自动显示0.01-199.99欧姆。

输入抗阻：0.2mV和2mV量程：>108Ω

测量精度：±0.1。

最大电阻测量误差(按JJG508-87进行)：0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω≤±5%读数±2个字。

重掺检测误差(JJG508-87进行)：1Ω≤±1%、0.5Ω≤±0.5%、0.1Ω≤±0.1%

测量环境：温度23±2℃，相对湿度≤65%

半导体电阻率测试仪将范德堡测量方法推广应用到直线四探针上，利用电流探针、电压探针的变换，在计算机控制下进行两次电测量，能自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响。半导体电阻率测试仪因而每次测量不必知道探针间距、样品尺寸及探针在样品表面上的位置。

半导体电阻率测试仪产品出处http://www.chem17.com/st262489/